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          產品詳情
          • 產品名稱:菲希爾x-ray鍍層分析儀

          • 產品型號:FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237
          • 產品廠商:德國菲希爾fischer
          • 產品價格:467600
          • 折扣價格:0
          • 產品文檔:
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          簡單介紹:
          菲希爾x-ray鍍層分析儀/射線熒光鍍層測厚材料分析儀/x射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237采用手動或自動方式,測量和分析微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規模生產的零部件上的鍍層。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237菲希爾x-ray鍍層分析儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器是為測量分析極薄鍍層和超小含量而設計,是用于質量控制,質量檢驗和生產監控的合適的測試儀器。
          詳情介紹:

          菲希爾x-ray鍍層分析儀/射線熒光鍍層測厚材料分析儀/x射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237為每次測量創造理想的激發條件,儀器配備可電動調整的多個準直器和基本濾片。比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。FISCHERSCOPE®-X-RAY XDLM237系統有著出色的精-確性和良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器,節省時間和精力。由于采用了基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。

           

          菲希爾x-ray鍍層分析儀/射線熒光鍍層測厚材料分析儀/x射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237典型的應用領域有:

          1,測量大規模生產的電鍍零部件

          2,測量微小區域上的薄鍍層

          3,測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

          4,全自動測量,如測量印刷線路板

           

          菲希爾x-ray鍍層分析儀/射線熒光鍍層測厚材料分析儀/x射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237設計理念:

          1,FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設計為界面友好的臺式測量儀器系列,配備了馬達驅動的X/Y工作臺,當保護門開啟時,工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程Z軸升降系統。

          2,高分辨率的彩色視頻攝像頭可方便精-確定位測量位置。配備了激光點,可以輔助定位并快速對準測量位置。

          3,測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計,由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板。

          4,帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放,并且允許測量點的精-確調整。

          5,所有的儀器操作,以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示,都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。

          6,XDLM237型鍍層測厚及材料分析儀完全滿足DIN ISO 3497標準和ASTM B 568標準,型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規規定。

           

          菲希爾x-ray鍍層分析儀/射線熒光鍍層測厚材料分析儀/x射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237參數規格:

          1,通用規格

          設計用途

          能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結構, 分析合金和微量組分。

          元素范圍

          從元素 (17)  (92) 配有可選的WinFTM® BASIC軟件時,*多可同時測定24種元素

          形式設計

          臺式儀器,測量門向上開啟

          測量方向

          從上到下

          2,X射線源

          X射線管

          帶鈹窗口的微聚焦鎢管

          高壓

          三檔: 30 kV,40 kV,50 kV

          孔徑(準直器)

          標準(523-440

          可選(523-366

          可選(524-061

          4個可切換準直器

          [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: ?0.1, ?0.2, ?0.3, 0.3x0.05 [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制

          基本濾片

          3種可切換的基本濾片(標準配置:鎳,鋁,無)

          測量點

          取決于測量距離及使用的準直器大小, 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致 *小的測量點大小:光圈約? 0.1 mm(選用準直器0.05x0.05 mm時)

          3,X射線探測

          X射線接收器

          測量距離

          比例接收器

          0 ~ 80 mm,使用磚利保護的DCM測量距離補償法

          4,視頻系統

          視頻系統

          高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦,對被測位置進行監控 十字線(帶有經過校準的刻度和測量點尺寸) 可調節亮度的LED照明,激光光點用于精-確定位樣品

          放大倍數

          40x - 160x

          5,電氣參數

          電源要求

          交流 220 V 50 Hz

          功率

          *- 120 W (不包括計算機)

          保護等級

          IP40

          尺寸規格

          外部尺寸

          xx[mm]570 x 760 x 650

          內部測量室尺寸

          重量

          xx[mm]460 x 495 x 146

          120kg

           

          6,工作臺

          設計

          馬達驅動可編程X/Y平臺

          *-大移動范圍                    255 × 235 mm

          X/Y平臺移動速度                 80 mm/s

          X/Y平臺移動重復精度             0.01 mm, 單向

          可用樣品放置區域                300 × 350 mm

          Z                              可編程運行

          Z軸移動范圍                    140 mm

          樣品*-大重量                    5 kg,降低精度可達20kg

          樣品*-大高度                    140 mm

          環境要求

          使用時溫度

          10°C 40°C

          存儲或運輸溫度

          0°C 50°C

          空氣相對濕度

           95 %, 無結露

          計算單元

          計算機

          帶擴展卡的計算機系統

          軟件

          標準: WinFTM® V.6 LIGHT 可選: WinFTM® V.6 BASIC,PDM®,SUPER

          7,X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀/X射線測厚儀/熒光膜厚儀XDLM 237執行標準

          CE合格標準

          EN 61010

          X射線標準

          DIN ISO 3497 ASTM B 568

          型式批準

          -全而保護**的測量儀器, 型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規規定。

          8,X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀/X射線測厚儀/熒光膜厚儀訂貨號

          FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

          604-347

             

           

           

           

          如有特殊要求,可與FISCHER磋商,定制特殊的XDLM型號。 更多菲希爾射線鍍層分析儀信息請聯系我們。
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